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微泄漏密封性測(cè)試儀(真空/壓力衰減)
型號(hào):Leak-DS
品牌:Sumspring三泉中石
Sumspring三泉中石Leak-DS微泄漏密封性測(cè)試儀(真空/壓力衰減)采用真空衰減法/壓力衰減法測(cè)試原理,主要用于瓿瓶、西林瓶、玻璃輸液瓶、塑料輸液瓶/袋、卡式瓶、預(yù)充針、滴眼劑瓶、BFS等成品包裝密封完整性測(cè)試。¥ 0.00 -
微泄漏密封性測(cè)試儀(壓力衰減)
型號(hào):Leak
品牌:Sumspring三泉中石
三泉中石微泄漏密封性測(cè)試儀(壓力衰減)適用于包裝物密封性測(cè)試,儀器采用真空/壓力衰減法測(cè)試原理,完全無損檢測(cè)技術(shù),滿足ASTM測(cè)試方法。高精度的測(cè)試技術(shù)能夠檢測(cè)到微型小孔的泄漏。¥ 0.00 -
微泄漏密封性測(cè)試儀(真空衰減)
型號(hào):LEAK-S
品牌:Sumspring三泉中石
LEAK-S微泄漏密封性測(cè)試儀(真空衰減法)適用于包裝物密封性測(cè)試,儀器采用真空/壓力衰減法測(cè)試原理,完全無損檢測(cè)技術(shù),滿足ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)。高精度CCIT測(cè)試技術(shù)能夠檢測(cè)到微型小孔的泄漏??捎糜谖髁制?、安瓿瓶、輸液瓶、預(yù)充針、滴眼劑瓶等大容量、小容量注射液及凍干產(chǎn)品的密封完整性驗(yàn)證。廣泛被制藥廠家、第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)、藥檢機(jī)構(gòu)等使用。¥ 0.00
共計(jì)3個(gè)產(chǎn)品
真空衰減法與壓力衰減法密封儀
真空衰減法是一種無損、定量的檢測(cè)非多孔、剛性或柔性包裝泄漏的方法,壓力衰減測(cè)試是一種用于檢測(cè)無孔、剛性或柔性包裝中泄漏的定量測(cè)量方法。如果加壓氣體的引人導(dǎo)致包裝壁或密封件破裂,則該測(cè)試是破壞性的。真空衰減法和壓力衰減法從原理上來講有較大差異。
●真空衰減法測(cè)試原理
真空衰減法基于真空傳感技術(shù),具體測(cè)試過程,將leak-S微泄漏密封測(cè)試儀主機(jī)連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來容納需要被測(cè)物的測(cè)試腔內(nèi)。儀器對(duì)測(cè)試腔進(jìn)行抽真空,包裝物內(nèi)外形成壓力差,在壓力的作用下包裝物內(nèi)氣體通過漏孔擴(kuò)散至測(cè)試腔內(nèi),真空傳感器技術(shù)檢測(cè)時(shí)間和壓力的變化關(guān)系,與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較,從而判斷試樣是否泄漏。可用于各種液體(負(fù)壓、常壓)有顏色無顏色包裝系統(tǒng)的非破壞性檢測(cè),如西林瓶、安瓿瓶、BFS、輸液瓶、輸液袋、預(yù)灌封注射器、滴眼劑瓶、卡式瓶等。不適用于混懸液、乳狀液(如蛋白質(zhì))、高粘度物質(zhì)(如糖漿)等容易堵塞泄漏通道的產(chǎn)品。
●壓力衰減法測(cè)試原理
壓力衰減測(cè)試旨在用測(cè)試樣品的氣體頂空區(qū)域的完整性檢測(cè)。為了進(jìn)行測(cè)試,需將干燥空氣或惰性氣體壓力源連接到配有內(nèi)部壓力監(jiān)測(cè)裝置的測(cè)試樣品上,其測(cè)試樣品需被加壓至預(yù)定壓力,且之后需與壓力源隔離。在預(yù)時(shí)間內(nèi)的壓力衰減將被監(jiān)測(cè)。超過使用陰性對(duì)照確定的預(yù)定極限的壓力衰減表明容器存有泄漏。適用于具有一定頂空氣體,無液體填充的包裝。常用于凍干粉、固體粉末類產(chǎn)品的密封完整性檢測(cè)。
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